X Ray Reflection(엑스레이 반사)란 무엇입니까?
X Ray Reflection 엑스레이 반사 - 3 Pa; the influence of stoichiometry on the physical and electrochemical properties of the films was evaluated by the characterization of scanning electron microscope (SEM), X-ray diffraction (XRD), X-ray reflection (XRR), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and more. [1] In this paper, we introduce the method to measure the spin of AGNs which is the X-ray reflection method, including both specific content and precautions. [2] With field-emission scanning electron microscopy (FESEM) and X-ray reflection (XRR) analysis, it was found that the topmost layer (nominally 10 nm in thickness) of the nanolaminate film (100 nm total thickness) changed when exposed to the atmosphere. [3] The positron annihilation analysis indicated that most of the open volume defects have been detected in the interface region rather than on the subsurface layer and this result is confirmed by detailed x-ray reflection analysis. [4] Such coatings play an important role in enhancing the reflectivity of X-ray mirrors by allowing reflections at angles much larger than the critical angle of X-ray reflection for the given materials. [5] Resonant magnetic x-ray reflections indexed as ${(1/4,\phantom{\rule{0. [6] Few reports have analyzed X-ray reflections from WDs. [7] X-ray reflection from the accretion disk is detected through a relativistically broadened iron K line and Compton hump in the X-ray emission spectrum. [8] Traditional reactive gas O2 was replaced by CO2 to fabricate carbon-doped tin oxide (SnOx-C) using pulse direct current magnetron sputtering (pDC-MS) with different Ar/CO2 flow ratios, the physical and electrochemical properties of SnOx-C films were characterized by X-ray reflection (XRR), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), battery tester, et al. [9] In this work, the growth behavior of ALD titanium silicate are studied by correlating different characterization results, including infrared spectra, chemical compositions, and X-ray reflection spectra. [10] The harder component dominates the bolometric luminosity and produces strong, narrow, X-ray reflection features. [11] Measurement results from the X-ray reflection test (XRR) show that the thickness error of the laterally graded multilayer film, coated on a parabolic cylinder Si substrate, is less than 1%, demonstrating the effectiveness of the optimized method for obtaining accurate film thickness distribution. [12] Determination of these parameters is possible with the X-ray method of Generalized Pole Figures (GPF), which consists of registration of the whole X-ray reflection profile under the pole figure recording. [13] To test whether motor unfolding is triggered by the availability of nearby actin binding sites, we measured changes in the x-ray reflections that report motor conformation when muscles are activated at longer sarcomere length, so that part of the thick filaments no longer overlaps with thin filaments. [14] At present, there are two commonly used spin measurement methods, the X-ray reflection method, and the continuum-fitting method. [15] X-ray diffraction (XRD) and X-ray reflection (XRR) results demonstrate that N dopants can effectively promote the formation of β-W phase and reduce the roughness of W(N)/Co interface, which are beneficial for PMA. [16] Rocking curve topography at the Advanced Photon Source's beamline 1-BM measures the x-ray reflection from large (many cm2) flat crystals on a sub-mm scale with microradian angular resolution. [17] For this important astrophysical problem, the paper begins with the significance of measuring a black hole spin and focuses on the theory of measuring the spin via the X-ray reflection recognized as iron line spectrum method. [18] The Sgr B2 complex is an X-ray reflection nebula whose total emissions have continued to decrease since the year 2001 as it reprocesses what are likely one or more past energetic outbursts from the supermassive black hole Sagittarius A*. [19] We investigate whether physically motivated geometries emerging from hydro-radiative simulations can be differentiated with X-ray reflection spectroscopy. [20] The interface structures and crystallizations of Nb/Si multilayers with and without B4C barriers were investigated by grazing incidence X-ray reflection (GIXRR) and X-ray diffraction (XRD). [21] The spectrometer will use three technologies – monocrystalline silicon X-ray optics (NASA Goddard Space Flight Center), X-ray reflection gratings (The Pennsylvania State University), and electron-multiplying CCDs (XCAM Ltd. [22] The lattice parameters and mosaic angular width of x-ray reflections from the crystallized films are consistent with partial relaxation of the strain resulting from the epitaxial mismatch between SrVO3 and SrTiO3. [23]3파; 화학양론이 필름의 물리적 및 전기화학적 특성에 미치는 영향은 주사 전자 현미경(SEM), X선 회절(XRD), X선 반사(XRR), X선 광전자 분광법(XPS)의 특성화에 의해 평가되었습니다. 그리고 더. [1] 본 논문에서는 X선 반사법인 AGN의 스핀을 측정하는 방법을 구체적인 내용과 주의사항을 포함하여 소개한다. [2] 전계 방출 주사 전자 현미경(FESEM) 및 X선 반사(XRR) 분석을 통해 나노라미네이트 필름(총 두께 100nm)의 최상층(공칭 두께 10nm)이 대기에 노출되었을 때 변화하는 것으로 나타났습니다. . [3] 양전자 소멸 분석 결과 대부분의 개방 체적 결함이 표면 아래층이 아닌 계면 영역에서 검출되었으며, 이는 상세한 X-선 반사 분석을 통해 확인되었다. [4] 이러한 코팅은 주어진 재료에 대해 X선 반사의 임계각보다 훨씬 큰 각도로 반사를 허용함으로써 X선 거울의 반사율을 높이는 데 중요한 역할을 합니다. [5] ${(1/4,\phantom{\rule{0)으로 인덱싱된 자기 공명 X선 반사. [6] WD의 X선 반사를 분석한 보고서는 거의 없습니다. [7] 강착 디스크의 X선 반사는 X선 방출 스펙트럼에서 상대론적으로 확장된 철 K선과 Compton 혹을 통해 감지됩니다. [8] 기존의 반응성 가스 O2는 다른 Ar/CO2 유량비를 갖는 펄스 직류 마그네트론 스퍼터링(pDC-MS)을 사용하여 탄소 도핑된 산화주석(SnOx-C)을 제조하기 위해 CO2로 대체되었으며 SnOx-C 필름의 물리적 및 전기화학적 특성은 다음과 같습니다. X선 반사(XRR), X선 광전자 분광법(XPS), 배터리 테스터 등으로 특징지어집니다. [9] 이 작업에서 ALD 티타늄 실리케이트의 성장 거동은 적외선 스펙트럼, 화학 조성 및 X선 반사 스펙트럼을 포함한 다양한 특성화 결과를 상호 연관시켜 연구합니다. [10] 더 단단한 구성 요소는 볼로메트릭 광도를 지배하고 강하고 좁은 X선 반사 기능을 생성합니다. [11] X-ray 반사 테스트(XRR) 측정 결과, 포물선형 원통 Si 기판에 코팅된 횡경사 다층막의 두께 오차가 1% 미만으로 나타나 정확한 막 두께를 얻기 위한 최적화된 방법의 효율성을 보여줍니다. 분포. [12] 이러한 매개변수의 결정은 극점 그림 기록에서 전체 X선 반사 프로파일의 등록으로 구성된 일반화된 극점 그림(GPF)의 X선 방법으로 가능합니다. [13] 운동 전개가 인근 액틴 결합 부위의 가용성에 의해 유발되는지 여부를 테스트하기 위해 근육이 더 긴 근절 길이에서 활성화될 때 운동 구조를 보고하는 x-선 반사의 변화를 측정하여 두꺼운 필라멘트의 일부가 더 이상 얇은 필라멘트와 겹치지 않도록 했습니다. 필라멘트. [14] 현재 일반적으로 사용되는 스핀 측정 방법에는 X선 반사 방법과 연속체 맞춤 방법의 두 가지가 있습니다. [15] X-선 회절(XRD) 및 X-선 반사(XRR) 결과는 N 도펀트가 β-W 상의 형성을 효과적으로 촉진하고 W(N)/Co 계면의 거칠기를 감소시킬 수 있음을 보여주며, 이는 PMA에 유리합니다. [16] Advanced Photon Source의 빔라인 1-BM의 요동 곡선 지형은 마이크로라디안 각도 분해능으로 mm 이하 규모의 큰(수 cm2) 평면 결정에서 X선 반사를 측정합니다. [17] 이 중요한 천체물리학적 문제에 대해 본 논문은 블랙홀 스핀 측정의 중요성에서 출발하여 철선 스펙트럼 방식으로 알려진 X선 반사를 통한 스핀 측정 이론에 초점을 맞춘다. [18] Sgr B2 복합체는 X선 반사 성운으로, 초거대질량 블랙홀 궁수자리 A*의 과거 에너지 폭발일 가능성이 있는 것을 재처리하면서 총 방출량이 2001년 이후 계속 감소하고 있습니다. [19] 우리는 수분 복사 시뮬레이션에서 나오는 물리적 동기 기하학이 X선 반사 분광법으로 구별될 수 있는지 여부를 조사합니다. [20] B4C 장벽이 있거나 없는 Nb/Si 다층의 계면 구조와 결정화는 입사 X선 반사(GIXRR) 및 X선 회절(XRD)을 통해 조사되었습니다. [21] 분광계는 단결정 실리콘 X선 광학(NASA Goddard Space Flight Center), X선 반사 격자(펜실베니아 주립 대학) 및 전자 증식 CCD(XCAM Ltd.)의 세 가지 기술을 사용합니다. [22] 결정화된 필름에서 X선 반사의 격자 매개변수와 모자이크 각도 폭은 SrVO3와 SrTiO3 사이의 에피택셜 불일치로 인한 변형의 부분 완화와 일치합니다. [23]
strong field regime 강력한 현장 체제
X-ray reflection spectroscopy is a powerful technique for probing the nature of gravity around black holes in the so-called strong-field regime. [1] In the presence of high quality data and with the correct astrophysical model, X-ray reflection spectroscopy can potentially be quite a powerful tool to probe the strong gravity region, study the morphology of the accreting matter, measure black hole spins, and possibly test Einstein's theory of general relativity in the strong field regime. [2] X-ray reflection spectroscopy is a promising technique for testing general relativity in the strong field regime, as it can be used to test the Kerr black hole hypothesis. [3]X선 반사 분광법은 소위 강장 영역에서 블랙홀 주변의 중력 특성을 조사하는 강력한 기술입니다. [1] 고품질 데이터가 있고 정확한 천체 물리학 모델이 있는 경우 X선 반사 분광법은 잠재적으로 강력한 중력 영역을 조사하고, 부착 물질의 형태를 연구하고, 블랙홀 스핀을 측정하고, 아인슈타인의 강장 체제에서의 일반 상대성 이론. [2] nan [3]