Instrumental Mass(기악 미사)란 무엇입니까?
Instrumental Mass 기악 미사 - The analytical sensitivity and instrumental mass discrimination behavior of this method are, however, sensitive to the types of sample and skimmer cones used in these measurements, so it is important that these parameters should be investigated. [1] In addition, the high instrumental mass accuracy allows for high-precision formula assignments narrowing down tremendously the chemical space of unknown compounds. [2] In addition, optimizations made the calibration and correction of instrumental mass bias easier, leading to consistent results with other methods that are currently published. [3] The double spike technique is the most suitable method to obtain reliable isotope 10 composition data that are accurately corrected for instrumental mass fractionation. [4] A secondary source of uncertainty is differences between the 206Pb/238U (normalized to their accepted values) for different zircons near the start of ablation, which may reflect matrix-dependent instrumental mass bias in the ICP. [5] We have calibrated an in-house triple spike used to correct for the instrumental mass bias effect and fractionation of Ce isotopes during Ce separation. [6] The analyses accuracy is, however, sensitive to ion yields and instrumental mass fractionations (IMFs) induced by the analytical procedure. [7] Potential instrumental mass bias effects and barium isotope fractionation during the chemical separation are corrected using a carefully optimized 130Ba-135Ba double-spike method. [8] RESULTS By theoretical calculation we found that the uncorrected instrumental mass fractionation of the double spike will not result in any systematic bias on the measurements of δ53 Cr values in the sample, provided that the double spike, standard and sample are measured on the same instrument and with the same cup configuration. [9] Instrumental mass bias for these isotope systems can be corrected adequately using the standard–sample bracketing method but it requires that target elements are of high purity, a close match in analyte concentrations between samples and bracketing standards, and preparation of all running solutions using the same concentration of nitric acid. [10] 0–120 mg/g Ag) with particular emphasis on the control of Ag yield and effects of instrumental mass bias. [11] Accurate SIMS analysis of nephrite requires correction for matrix-dependent instrumental mass fractionation, for which we developed an empirical calibration based on Mg + Ca cation allocation on the crystallographic B-site of amphibole. [12] The analyses accuracy is however sensitive to ion yields and instrumental mass fractionations (IMFs) induced by the analytical procedure. [13]그러나 이 방법의 분석 감도 및 기기 질량 식별 동작은 이러한 측정에 사용된 샘플 및 스키머 콘의 유형에 민감하므로 이러한 매개변수를 조사하는 것이 중요합니다. [1] 또한 높은 기기 질량 정확도로 인해 고정밀 공식 할당이 가능하여 미지의 화합물의 화학적 공간을 엄청나게 좁힐 수 있습니다. [2] 또한 최적화를 통해 기기 질량 편향의 보정 및 수정이 더 쉬워져 현재 게시된 다른 방법과 일관된 결과를 얻을 수 있습니다. [3] 이중 스파이크 기술은 기기의 질량 분별을 위해 정확하게 수정된 신뢰할 수 있는 동위 원소 10 구성 데이터를 얻는 데 가장 적합한 방법입니다. [4] 불확실성의 두 번째 원인은 절제 시작 부근의 다양한 지르콘에 대한 206Pb/238U(허용된 값으로 정규화됨) 간의 차이이며, 이는 ICP의 매트릭스 종속 기기 질량 편향을 반영할 수 있습니다. [5] 우리는 Ce 분리 중 기기 질량 편향 효과와 Ce 동위원소 분획을 수정하는 데 사용되는 사내 삼중 스파이크를 보정했습니다. [6] 그러나 분석 정확도는 분석 절차에 의해 유도된 이온 수율 및 기기 질량 분획(IMF)에 민감합니다. [7] 화학적 분리 중 잠재적인 기기 질량 편향 효과와 바륨 동위원소 분획은 신중하게 최적화된 130Ba-135Ba 이중 스파이크 방법을 사용하여 수정됩니다. [8] 결과 이론적 계산에 의해 이중 스파이크의 보정되지 않은 기기 질량 분획은 시료에서 δ53 Cr 값의 측정에 대한 체계적인 편향을 초래하지 않는다는 것을 발견했습니다. 단, 이중 스파이크, 표준 및 시료가 동일한 기기에서 같은 컵 구성. [9] 이러한 동위원소 시스템에 대한 기기 질량 편향은 표준-시료 브라케팅 방법을 사용하여 적절하게 보정할 수 있지만 타겟 요소의 순도가 높고 시료와 브라케팅 표준 사이의 분석물 농도가 밀접하게 일치해야 하며 동일한 방법을 사용하여 모든 실행 용액을 준비해야 합니다. 질산 농도. [10] 0–120mg/g Ag), 특히 Ag 수율 제어 및 기기 질량 편향의 영향에 중점을 둡니다. [11] 연옥의 정확한 SIMS 분석은 매트릭스 종속 기기 질량 분류에 대한 수정이 필요하며, 이에 대해 우리는 각섬석의 결정학적 B-사이트에 대한 Mg + Ca 양이온 할당을 기반으로 하는 경험적 보정을 개발했습니다. [12] 그러나 분석 정확도는 분석 절차에 의해 유도된 이온 수율 및 기기 질량 분획(IMF)에 민감합니다. [13]
Dependent Instrumental Mass 종속 기악 질량
A secondary source of uncertainty is differences between the 206Pb/238U (normalized to their accepted values) for different zircons near the start of ablation, which may reflect matrix-dependent instrumental mass bias in the ICP. [1] Accurate SIMS analysis of nephrite requires correction for matrix-dependent instrumental mass fractionation, for which we developed an empirical calibration based on Mg + Ca cation allocation on the crystallographic B-site of amphibole. [2]불확실성의 두 번째 원인은 절제 시작 부근의 다양한 지르콘에 대한 206Pb/238U(허용된 값으로 정규화됨) 간의 차이이며, 이는 ICP의 매트릭스 종속 기기 질량 편향을 반영할 수 있습니다. [1] 연옥의 정확한 SIMS 분석은 매트릭스 종속 기기 질량 분류에 대한 수정이 필요하며, 이에 대해 우리는 각섬석의 결정학적 B-사이트에 대한 Mg + Ca 양이온 할당을 기반으로 하는 경험적 보정을 개발했습니다. [2]
instrumental mass bia 기악 질량 바이어스
In addition, optimizations made the calibration and correction of instrumental mass bias easier, leading to consistent results with other methods that are currently published. [1] A secondary source of uncertainty is differences between the 206Pb/238U (normalized to their accepted values) for different zircons near the start of ablation, which may reflect matrix-dependent instrumental mass bias in the ICP. [2] We have calibrated an in-house triple spike used to correct for the instrumental mass bias effect and fractionation of Ce isotopes during Ce separation. [3] Potential instrumental mass bias effects and barium isotope fractionation during the chemical separation are corrected using a carefully optimized 130Ba-135Ba double-spike method. [4] Instrumental mass bias for these isotope systems can be corrected adequately using the standard–sample bracketing method but it requires that target elements are of high purity, a close match in analyte concentrations between samples and bracketing standards, and preparation of all running solutions using the same concentration of nitric acid. [5] 0–120 mg/g Ag) with particular emphasis on the control of Ag yield and effects of instrumental mass bias. [6]또한 최적화를 통해 기기 질량 편향의 보정 및 수정이 더 쉬워져 현재 게시된 다른 방법과 일관된 결과를 얻을 수 있습니다. [1] 불확실성의 두 번째 원인은 절제 시작 부근의 다양한 지르콘에 대한 206Pb/238U(허용된 값으로 정규화됨) 간의 차이이며, 이는 ICP의 매트릭스 종속 기기 질량 편향을 반영할 수 있습니다. [2] 우리는 Ce 분리 중 기기 질량 편향 효과와 Ce 동위원소 분획을 수정하는 데 사용되는 사내 삼중 스파이크를 보정했습니다. [3] 화학적 분리 중 잠재적인 기기 질량 편향 효과와 바륨 동위원소 분획은 신중하게 최적화된 130Ba-135Ba 이중 스파이크 방법을 사용하여 수정됩니다. [4] 이러한 동위원소 시스템에 대한 기기 질량 편향은 표준-시료 브라케팅 방법을 사용하여 적절하게 보정할 수 있지만 타겟 요소의 순도가 높고 시료와 브라케팅 표준 사이의 분석물 농도가 밀접하게 일치해야 하며 동일한 방법을 사용하여 모든 실행 용액을 준비해야 합니다. 질산 농도. [5] 0–120mg/g Ag), 특히 Ag 수율 제어 및 기기 질량 편향의 영향에 중점을 둡니다. [6]
instrumental mass fractionation 기기 질량 분별
The double spike technique is the most suitable method to obtain reliable isotope 10 composition data that are accurately corrected for instrumental mass fractionation. [1] The analyses accuracy is, however, sensitive to ion yields and instrumental mass fractionations (IMFs) induced by the analytical procedure. [2] RESULTS By theoretical calculation we found that the uncorrected instrumental mass fractionation of the double spike will not result in any systematic bias on the measurements of δ53 Cr values in the sample, provided that the double spike, standard and sample are measured on the same instrument and with the same cup configuration. [3] Accurate SIMS analysis of nephrite requires correction for matrix-dependent instrumental mass fractionation, for which we developed an empirical calibration based on Mg + Ca cation allocation on the crystallographic B-site of amphibole. [4] The analyses accuracy is however sensitive to ion yields and instrumental mass fractionations (IMFs) induced by the analytical procedure. [5]이중 스파이크 기술은 기기의 질량 분별을 위해 정확하게 수정된 신뢰할 수 있는 동위 원소 10 구성 데이터를 얻는 데 가장 적합한 방법입니다. [1] 그러나 분석 정확도는 분석 절차에 의해 유도된 이온 수율 및 기기 질량 분획(IMF)에 민감합니다. [2] 결과 이론적 계산에 의해 이중 스파이크의 보정되지 않은 기기 질량 분획은 시료에서 δ53 Cr 값의 측정에 대한 체계적인 편향을 초래하지 않는다는 것을 발견했습니다. 단, 이중 스파이크, 표준 및 시료가 동일한 기기에서 같은 컵 구성. [3] 연옥의 정확한 SIMS 분석은 매트릭스 종속 기기 질량 분류에 대한 수정이 필요하며, 이에 대해 우리는 각섬석의 결정학적 B-사이트에 대한 Mg + Ca 양이온 할당을 기반으로 하는 경험적 보정을 개발했습니다. [4] 그러나 분석 정확도는 분석 절차에 의해 유도된 이온 수율 및 기기 질량 분획(IMF)에 민감합니다. [5]